無錫冠亞恒溫制冷技術有限公司的半導體控溫解決方案

主要產品包括半導體專?溫控設備、射流式?低溫沖擊測試機和半導體??藝廢?處理裝置等?設備，

?泛應?于半導體、LED、LCD、太陽能光伏等領域。

【 冠亞制冷 】半導體行業(yè)主營控溫產品：

半導體專溫控設備

射流式?低溫沖擊測試機

半導體專用溫控設備chiller

Chiller氣體降溫控溫系統

Chiller直冷型

循環(huán)風控溫裝置

半導體?低溫測試設備

電?設備?溫低溫恒溫測試冷熱源

射流式高低溫沖擊測試機

快速溫變控溫卡盤

數據中心液冷解決方案

直冷型制冷-40℃ Chiller 半導體?溫控設備

直冷型制冷-40℃ Chiller 半導體?溫控設備

射流式高低溫沖擊測試機給芯片、模塊、集成電路板、電子元器件等提供精確且快速的環(huán)境溫度。

是對產品電性能測試、失效分析、可靠性評估的儀器設備。

溫度控制范圍：-120℃ 至+300℃，升降溫速率?常快速，150℃?-55℃＜10秒，zui??流量：30m3/h；

實時監(jiān)控被測IC真實溫度,實現閉環(huán)反饋，實時調整?體溫度升降溫時間可控，程序化操作、?動操作、遠程控制

測試條件：環(huán)境溫度20℃，30m3/h，5Bar,壓縮空?或氮?可定制100m3/h?體流量快速沖擊測試機，?于滿?較?測試功率需求

　　沖擊系統快速溫變測試機是一種用于測試半導體器件在不同溫度下的性能表現，這種測試機通常被廣泛應用于半導體行業(yè)的生產、研發(fā)和品質控制等領域。

　　一、沖擊系統快速溫變測試機的應用

　　1、生產控制

　　在半導體生產過程中，需要對半導體器件進行嚴格的測試，以確保其性能符合要求。沖擊系統快速溫變測試機可以模擬不同溫度環(huán)境，從而對生產出的半導體器件進行性能檢測。

　　2、研發(fā)實驗

　　在研發(fā)階段，沖擊系統快速溫變測試機可以幫助科研人員在不同溫度環(huán)境下研究半導體的性能表現，進一步探索半導體的物理特性和應用潛力。

　　3、品質控制

　　在品質控制環(huán)節(jié)，沖擊系統快速溫變測試機通過對半導體器件進行嚴格的質量檢測，確保產品的質量和可靠性。

　　二、沖擊系統快速溫變測試機的優(yōu)勢

　　1、溫度范圍廣

　　沖擊系統快速溫變測試機可以模擬從低溫度到高溫度的環(huán)境，為半導體器件的性能測試提供了廣闊的溫度范圍。

　　2、測試精度高

　　沖擊系統快速溫變測試機具有高精度的溫度控制和測試系統，能夠準確記錄和評估半導體器件在不同溫度下的性能數據。

　　3、應用范圍廣

沖擊系統快速溫變測試機不僅適用于半導體器件的性能測試，還可以應用于其他材料和元器件的性能檢測。